了解牛頓環(huán)測透鏡的曲率半徑的運用讀數顯微鏡實驗
對于光的干涉的認識,我們都知道其實那就是光的一種波動性,如果是在相同點的光源中,可以將其發(fā)出的光分成兩束,
這樣的話,當它們經過了不同的路徑之后,就會重新結合到一起,出現干涉現象的時候,大都是因為光程的差小于光源中所給藥的相干長度,
一般情況下,如今在科學研究和工藝技術中,這種干涉現象有著非常廣泛的作用,特別是在光波的測量中,還有進行精確厚度和長度測量的時候,
還有在機械制造方面也是需要的,如零件表面的光潔度,以及對零件內應力的分布情況,在半導體的技術中,如果對硅片中進行氧化層厚度測量的時候,也是需要光的干涉現象,
不過,這樣的實驗需要讀數顯微鏡和牛頓環(huán)的儀器的裝置進行配合,這里所需要的光源是鈉光光源。
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