本文標題："光譜如何測量交錯結(jié)構(gòu)和破壞性干涉光帶的干涉圖"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 站內(nèi)動態(tài) ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-10-7 12:8:24

光譜如何測量交錯結(jié)構(gòu)和破壞性干涉光帶的干涉圖

    傅里葉變換分光計的簡圖。來目紅外光源的光進入干涉儀，光
束分離器將一半的光通過活動反射鏡，而另一半的光折射到固定反
射鏡。由于兩次觸發(fā)光束分離器，光束又一次分裂，以致一半返回
光源，而另一半繼續(xù)通過光學系統(tǒng)。林而，該點的光束是由整個入
射波長的重迭干涉圖構(gòu)成。從兩個反射鏡的等距，以及向光束分離
器移動的活動反射鏡開始，單色光子形成由交錯結(jié)構(gòu)和破壞性干涉
光帶的干涉圖。多色輻射產(chǎn)生一種強度，方程式的整函數(shù)大于全波長。
    光束不是聚集在試樣上，就是聚集在基準元件上，然后通過探
測器。利用小型計算機可將多色輻射強度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為有用的吸收
光譜(若用人工處理數(shù)據(jù)是很麻煩的)。
    靈敏度 傅里葉轉(zhuǎn)換光譜的測定不用縫隙，所以，光譜測量的
有用光址可增加100倍。并且全部光都射入探測器，不像一般紅
外色散器件那樣需要選擇波長，其靈敏度至少可增加1000倍。

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光譜如何測量交錯結(jié)構(gòu)和破壞性干涉光帶的干涉圖,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應

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